IIO: core: Modify scan element type
authorSrinivas Pandruvada <srinivas.pandruvada@linux.intel.com>
Mon, 28 Apr 2014 23:51:00 +0000 (00:51 +0100)
committerJonathan Cameron <jic23@kernel.org>
Tue, 29 Apr 2014 21:07:11 +0000 (22:07 +0100)
commit0ee8546ac01864b6e12e65199142e00db59c9809
tree0e9fd9edf7193e7b9ba5094d08c49ae7d1c81e87
parent9fbfb4b37ed23f71aa9484484266381c6c6964cb
IIO: core: Modify scan element type

The current scan element type uses the following format:
  [be|le]:[s|u]bits/storagebits[>>shift].
To specify multiple elements in this type, added a repeat value.
So new format is:
  [be|le]:[s|u]bits/storagebitsXr[>>shift].
Here r is specifying how may times, real/storage bits are repeating.

When X is value is 0 or 1, then repeat value is not used in the format,
and it will be same as existing format.

Signed-off-by: Srinivas Pandruvada <srinivas.pandruvada@linux.intel.com>
Signed-off-by: Jonathan Cameron <jic23@kernel.org>
drivers/iio/industrialio-buffer.c
include/linux/iio/iio.h